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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學常數） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外） 區域傳感器的安全機制 易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時間：2025-03-27型號：OPTM SERIES訪問量：2101
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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

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    更新時間：2025-03-27型號：訪問量：1634
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